技術產品
三條產品線的完整規格
規格全部攤開,包含我們做不到的部分。型錄上寫得漂亮、實機做不到的數字,對產線沒有意義。
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01
KL-D 系列 · 雷射位移感測
共焦式量測頭。厚度、段差、平面度的線上檢測,專攻鏡面／透明／高反光材質 —— 三角測距在這些材質上會失準,這是它存在的理由。
量程 2–130 mm重複精度 ±0.2 µm取樣 4 kHzIP67 -
02
KL-V 系列 · 視覺檢測模組
光源、鏡頭、判定演算法一體式。出廠含瑕疵分類模型,產線端只需定義允收標準。
500 萬 / 1200 萬畫素判定週期 < 18 msGigE / EtherCATIP65 -
03
KL-M 系列 · 製程監控與資料閘道
把散在產線各處的訊號收成單一時間序列,對接既有 MES。支援離線緩衝。
32 通道同步誤差 < 1 msOPC UA / Modbus TCP離線緩衝 30 天
規格對照
KL-D 系列 · 型號對照表
所有數值皆為 23 °C ± 1 °C、標準反射面條件下的實測值。環境溫度每偏離 10 °C,精度約劣化 8%。
| 型號 | 量程 | 重複精度 | 線性度 | 取樣頻率 | 光點直徑 | 防護 |
|---|---|---|---|---|---|---|
| KL-D 02 | 2 – 8 mm | ±0.2 µm | ±0.02 % F.S. | 4 kHz | 25 µm | IP67 |
| KL-D 15 | 10 – 25 mm | ±0.4 µm | ±0.02 % F.S. | 4 kHz | 40 µm | IP67 |
| KL-D 35 | 25 – 60 mm | ±1.0 µm | ±0.03 % F.S. | 2 kHz | 65 µm | IP67 |
| KL-D 80 | 60 – 130 mm | ±2.5 µm | ±0.05 % F.S. | 1 kHz | 120 µm | IP65 |
KL-V 系列 · 型號對照表
| 型號 | 感測器 | 解析度 | 判定週期 | 視野（工作距 200 mm） | 介面 |
|---|---|---|---|---|---|
| KL-V 05 | 1/1.8" CMOS | 2448 × 2048 | < 18 ms | 68 × 57 mm | GigE |
| KL-V 12 | 1/1.1" CMOS | 4024 × 3036 | < 32 ms | 92 × 69 mm | GigE / EtherCAT |
| KL-V 12L | 1/1.1" CMOS | 4024 × 3036 | < 32 ms | 184 × 138 mm | GigE / EtherCAT |
這三件事,我們做不到。
先講清楚,比事後解釋省事:
- 粗糙度 Ra < 0.05 µm 的鏡面,KL-D 02 以外的型號會有跳點 —— 請直接選 02,或改用接觸式。
- 高溫爐內（> 80 °C）無標準品可用,需客製水冷套件,交期另計。
- KL-V 的瑕疵模型不含「外觀美感」判定 —— 那類標準無法量化,我們不接。